NX20 Atomic Force Microscope system with two monitors and control unit on a desk.

Semi-Conductor Wafer 材料分析首選

Park NX20 (300mm) - 12"晶圓片測量和分析的頂級工具

Park NX20 300mm是業界首個大樣品原子力顯微鏡, 可於 300mm x 300mm Sample in Automation。

具有粗糙度、高度和深度量測，缺陷檢查，電力和磁故障分析，熱效能表徵和奈米力學性能成像等能力。

NX20 300mm 成為需要掃描大樣品的QA 和 QC 量測的首選。

TIPS

是用於學術研究還是半導體廠內？
是否需要包含專門的磁性分析模組？
您的預算範圍大約落在哪裡？

我可以幫您進一步評估整體投資效益。